StellarNet Display-System显示测量系统

简要描述：StellarNet Display-System显示测量系统包括：SILVER‑Nova 光谱仪、F600‑VISNIR 光纤线缆、CR2 余弦接收头、CRLENS 透镜、RAD‑CAL 辐射亮度校准（单位：W/m2/sr、cd/m2）、RAD‑CAL 弱光校准，以及 RAD‑CAL‑DOC 可溯源至 NIST 的校准证书。

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厂商性质：代理商
更新时间：2026-08-21
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品牌	StellarNet	价格区间	5万-10万
产地类别	进口	应用领域	环保,化工,能源,电子/电池,综合

StellarNet Display-System显示测量系统介绍：

预配置光谱辐射计成套系统，用于各类显示器与监视器的常规分析。

整套系统包含：SILVER‑Nova 光谱仪、F600‑VISNIR 光纤线缆、CR2 余弦接收头、CRLENS 透镜、RAD‑CAL 辐射亮度校准（单位：W/m2/sr、cd/m2）、RAD‑CAL 弱光校准，以及 RAD‑CAL‑DOC 可溯源至 NIST 的校准证书。

适用于 LCOS、LCD、OLED 及其他平板显示器的光学性能测试

显示屏测量一套系统包含微型光谱仪、光纤线缆（或直连组件）、集光配件 / 透镜组件，以及可溯源至 NIST 的强度校准套件。可稳定测量显示器输出亮度（cd/m2，尼特）、xy 色坐标、色纯度、对比度、镜面反射与漫反射等多项参数。

适配全尺寸显示模组与面板，覆盖手机、平板等微型移动显示屏至大型 LCD 电视；系统既可以配置用于弱光发光测试，也可满足超高亮度测试工况。

StellarNet 光谱仪是各类显示器、监视器低成本常规分析的优质工具。电视、电脑显示器、笔记本电脑、车载显示屏、手机以及各类移动设备的平板显示器应用日益广泛，市场亟需精准、快速且高性价比的检测手段，用于测量颜色、亮度以及其他各类输出参数。在研发场景下，市场持续需要低成本、易操作的测量系统，适配各类尺寸、亮度、技术类型的显示屏，包括 LCD、等离子、OLED、LED。

在生产制造环节，需要精准、可重复的定量测量方案，替代传统人工目检方式。同时，StellarNet 系列低成本光谱仪体积小巧、便携耐用，相比大型台式显示测量设备，具备更高的成本优势。多台光谱仪可部署于产线车间，也可带到现场使用，设备转运便捷，提升检测与质量管控的便利性。

低成本、坚固耐用、高性能
高动态范围，系统配置灵活
丰富的集光配件与校准可选配置
抗冲击，光路校准对齐
免费附赠简易易用的 SpectraWiz 软件
USB‑2 接口，适配所有 Windows 电脑

StellarNet Display-System显示测量系统技术参数：

参数项目	参数值
预配置系统	标准版 StellarNet 显示测量系统
光谱仪型号	SILVER‑Nova
波长范围	300‑1100nm
狭缝尺寸	50μm
光谱分辨率	＜1nm
测量亮度范围	0.1‑17500 Nits（尼特）
系统动态范围（最小至最大信号）	68dB
接收器件类型	余弦校正接收镜头
积分时间	10ms～60s
波长精度	＜0.25nm
光功率精度	±5%，NIST 溯源校准
色度精度	±0.001（参考标准灯）
色坐标 xy 重复性	±0.000328
显色指数 CRI 重复性	±0.02
色温 CCT 重复性	±1.5
光功率重复性（cd/m2，强光）	0.05%
光功率重复性（cd/m2，弱光，1 分钟曝光）	5%
配套软件	StellarPro、SpectraWiz、全部可定制 SDK

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