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| 品牌 | PLAZMARK | 供货周期 | 一个月以上 |
|---|---|---|---|
| 主要用途 | 对于晶圆工艺 | 应用领域 | 化工,电子/电池,综合,半导体,机械设备 |
PLAZMARK晶圆型等离子指示片产品概述:
本品外形与生产所用衬底晶圆相近,可直接放置于设备内部,无需额外特殊处理,即可便捷完成片内等离子分布均匀性检测。
溅射工艺(仅反向溅射工况)
PLAZMARK晶圆型等离子指示片核心材质与核心优势:
基材:聚酰亚胺耐高温基板
最高耐受 200℃腔体高温,真空环境下不变形、不翘曲,适配等离子灰化、刻蚀、溅射等高温真空工艺;低翘曲度,贴合晶圆托盘平面。
显色层:全新无机变色颜料
区别传统有机指示剂,高温下无分解、无褪色;接触电离等离子后产生稳定色差,色差数值可对应换算等离子电子密度,实现工艺定量管控,不只是简单定性判断。
超低出气配方
产品出气速率做到最小化,不会在真空腔体释放挥发性杂质,避免污染晶圆、破坏真空洁净度,满足半导体高洁净制程标准。
无背胶一体化晶圆造型
外形和生产所用衬底晶圆一致,无需粘贴、无需额外固定夹具,直接放置载片盘即可使用,无残胶污染风险。
核心技术功能两点:
精准检测氩电离等离子(核心差异化优势)
常规氧气型指示剂仅对氧自由基等离子有效,无法识别氩等离子;本款可高效检出氩离子轰击产生的电离等离子,适配氩洗、反向溅射等氩气主导工艺。
快速完成片内等离子均匀性评估
整片指示片同步参与晶圆制程,工艺结束后整片显色区域可直观判断腔体内等离子分布是否均匀,无需复杂仪器;搭配色差仪可量化整片不同位置等离子电子密度,快速定位设备功率不均、气体偏流、腔体漏气等故障。
免特殊处理,兼容自动化产线
标准晶圆尺寸,适配半导体全自动真空设备、晶圆传送机,上下料流程和硅片一致,无需改造设备、无需人工特殊操作,适配批量产线日常点检。
兼顾多类等离子工况
氩等离子、氧自由基等离子均可检测;自由基主导的工艺场景下,可搭配氧指示剂做交叉验证,覆盖多元制程需求。
陶瓷类型φ4英寸/6英寸/200毫米
等离子处理后剩余的色调因所用气体类型而异。

无金属类型φ4英寸/6英寸/200毫米/300毫米
最大限度地去除金属成分带来了更高的清洁度。
它已针对清洁工艺进行了优化,如硅胶半导体前端工艺。
平面内均匀性评估的应用
颜色差异可以通过使用专有的“等离子体指示器评估系统"来量化。
即使是肉眼几乎无法辨认的细微差别也能被发现。因此,可以通过映射直观地评估平面内均匀性。
结果可以轻松且无需繁琐步骤。

例如,这包括由氬气引起的颜色变化,以及通过自动映射系统评估平面内分布。
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