半球发射率测定仪

PM-E2半球发射率测定仪原理

PM-E2半球发射率测定举例

PM-E2半球发射率测定仪技术规格

系统组成

仪器包含积分球测量单元，光源，数据显示的操作单元。

校正
低辐射参考样板使用镀金玻璃镜面 (εL=0.05@293K/Edmund),高辐射标准样板使用
黑体 (εH=0.85@293K/Sheldahl).

测定方法    
半球发射率εH
半球发射率测定范围    0.05～0.95
检测器波长范围    
0.6～42μm（300K理论黑体总放射能量的95%）
测定的不确定性    半球发射率值±0.03
测定时间    1～3分
基准样品    
低半球发射率εH=0.05@293K (镀金镜面/ Edmund)
高半球发射率εH=0.85@293K（Sheldahl制）
电源    DC12V1A
尺寸规格    
操作部分：W145×D82×H32 (mm)
测定部分：W125×D60×高74 (mm)
重量    
操作部分：约200g
测定部分：约700g
储存环境    
温度：10～45℃
湿度：50%RH
附件    
使用手册
CD（驱动程序）
USB数据线 (Type A－Type B)
电源线